測(cè)厚儀用于用于涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試，具有通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高、眾多不同的嵌入式測(cè)量模塊可進(jìn)行個(gè)性化配置并帶有各種設(shè)備接口，各種不同的探頭，用于被測(cè)樣品不同的幾何形狀和厚度范圍。
測(cè)厚儀的特點(diǎn)：
儀器集成了探頭，便于操作
出色的重復(fù)精度
受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小
享有電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流方法）
快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測(cè)量讀數(shù)
兩個(gè)背光液晶顯示屏，便于從各個(gè)角度讀取測(cè)量值，甚至可從儀器頂部讀取讀數(shù)
耐用的探頭和堅(jiān)固的外殼
記錄測(cè)量值時(shí)可以發(fā)出聲音和視覺的信號(hào)
測(cè)厚儀的用途：
⊙適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
⊙頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用。
⊙能通過“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化。
⊙畫中畫測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測(cè)量的距離）。
⊙圖形化的用戶界面，測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中。
