亞洲重要的分析、實驗室技術(shù)和生化領(lǐng)域?qū)I(yè)博覽會——第十屆慕尼黑上海分析生化展 （analytica China 2020）即將于 2020 年 11 月 16-18 日在上海新博覽中心 E2-E7 館拉 開帷幕。本屆展會規(guī)模*，展示總面積超 60,000 平方米。在此，主辦方誠摯地邀請您及同事組團前來參觀！

       本屆 analytica China 除了大家熟悉的生命科學(xué)、診斷與生物技術(shù)展區(qū)、分析與質(zhì)量控制展區(qū)、實驗室通用設(shè)備展區(qū)、實驗室建設(shè)與安全展區(qū)、食品安全裝備與技術(shù)展區(qū)、環(huán)境保護裝備與技術(shù)六大基礎(chǔ)展區(qū)以外，為了滿足實驗室自動化信息化與實驗室設(shè)備核心零部件的市場需求及快速發(fā)展，將*推出實驗室自動化與信息化展區(qū)和實驗室設(shè)備核心零部件展區(qū)，帶來實驗室創(chuàng)新產(chǎn)品及研發(fā)技術(shù)解決方案，推動未來實驗室智能化發(fā)展?，F(xiàn)場預(yù)計匯聚 1,200+家業(yè)內(nèi)企業(yè)，帶來全新研發(fā)成果。為政府部門及科研機構(gòu)、食品、生物制藥、環(huán)境監(jiān)測、醫(yī)療衛(wèi)生、化工、第三方檢測等各個行業(yè)用戶提供新實驗室產(chǎn)品與技術(shù)，以及完整的實驗室解決方案和一體化服務(wù)。期待您的到來，與 36,000 多名專業(yè)觀眾共襄盛舉。

       同期舉辦的 analytica China 研討會也是業(yè)內(nèi)人士關(guān)注的焦點，多場高規(guī)格、高質(zhì)量主題會議活動，將就分析化學(xué)、食品安全、環(huán)境監(jiān)測與檢測、制藥、臨床診斷、醫(yī)學(xué)、實驗室規(guī)劃與管理等專題進行深入探討。

      后，再次誠摯地邀請您及同事組團參觀此次慕尼黑上海分析生化展，進行跨界合作交流， 共同探索新分析、實驗室技術(shù)、診斷和生化技術(shù)，推動中國相關(guān)產(chǎn)業(yè)的進一步發(fā)展！

廣州貝拓科學(xué)-誠邀您蒞臨參觀

      廣州貝拓科學(xué)將攜多款拳頭產(chǎn)品亮相上海新博覽中心。貝拓科學(xué)（E5館5827）誠邀新老朋友蒞臨參觀指導(dǎo)！展會期間能譜科技的產(chǎn)品工程師將為您分享科學(xué)儀器技術(shù)，期待您的參與。 

 展品一：全自動接觸角測量儀DSA-X PLUS

        DSA-X PLUS光學(xué)接觸角測量儀由貝拓科學(xué)自主研發(fā)設(shè)計生產(chǎn)，配置先進的高分辨高速工業(yè)相機搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進行計算擬合獲得準確的測試數(shù)據(jù)。儀器機構(gòu)結(jié)合了人體工程學(xué)，提供人性化的自動化進樣調(diào)節(jié)、樣品臺調(diào)節(jié)、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)節(jié)等，使測試變得準確而快速高效。

 展品二：力學(xué)法表面張力儀KF100

       表面張力儀-KF100功能多樣，可以全自動測量表面和界面張力。KF100提供了諸多擴展模塊來拓展儀器的應(yīng)用范圍, 用于測定表面和界面的各種特性，大大提高了其使用的靈活性。用標(biāo)準方法來測量液體的表面和界面張力。測量溫度控制范圍從-10到130 °C，可以滿足實際測量需要。測樣空間寬敞，有利于樣品方便的處理。KF100測試結(jié)果準確、快速、穩(wěn)定，深受用戶好評！

 展品三：納米粒度儀DLS 90

       DLS90是一款基于動態(tài)光散射原理研制的納米顆粒粒度表征儀器。分散在液體中的顆粒由于受到液體分子的熱運動撞擊而進行不規(guī)則的布朗運動。在相同環(huán)境下，顆粒尺寸越小，布朗運動越劇烈，對應(yīng)顆粒的擴散行為越明顯。當(dāng)一束激光照射到這些顆粒時，其散射光的強度會由于顆粒的布朗運動而隨機變化，且變化的快慢與顆粒布朗運動的快慢有關(guān)。通過特定的光子相關(guān)器可直接測量散射光強的變化快慢，進而可知顆粒布朗運動的擴散系數(shù)，再利用Stokes-Einstein公式即可計算得到顆粒的粒徑及其粒度分布。動態(tài)光散射技術(shù)是標(biāo)準化組織(ISO)推薦采用的納米顆粒粒度測量技術(shù)，相比其他技術(shù)，其從測量原理上具有顯著的優(yōu)勢，是目前通用的納米顆粒粒度測量方法。